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Automatische Klassifikation hochaufgelöster Oberflächenprofile von Hauttumoren mit neuronalen Netzen | SpringerLink
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Automatische Klassifikation hochaufgelöster Oberflächenprofile von Hauttumoren mit neuronalen Netzen

  • Conference paper
Mustererkennung 1995

Part of the book series: Informatik aktuell ((INFORMAT))

Zusammenfassung

In diesem Beitrag wird ein Ansatz zur automatischen Unterscheidung nävozellulärer Nävi von malignen Melanomen vorgestellt, der auf profilometrischen Messungen der Hautoberfläche beruht. Die Analyse stützt sich auf hochaufgelöste Oberflächenprofile eines Hautareals von 4x4mm2 Größe, das mit 125 Meßpunkten pro mm mit einem Laserprofilometer abgetastet wird. Jedes dieser Profile wird in 16 Teilprofile gleicher Größe zerlegt, aus denen zur Differenzierung von Melanomen und Nävi drei verschiedene Arten von Merkmalen extrahiert werden: Texturmerkmale, Fouriermerkmale und fraktale Merkmale. Anschließend wird eine Auswahl von Merkmale getroffen, wobei die Güte einer Untermenge von Merkmalen mit der Fehlerrate des Nächster-Nachbar-Klassifikators, geschätzt mit der Leaving-One-Out Methode, bestimmt wird. Mit der so ermittelten besten Teilmenge von Merkmalen werden Backpropagation-Netzwerke trainiert. Hierbei werden die Anzahl von verborgenen Schichten, die Anzahl von Neuronen pro Schicht sowie die Fehlerschwelle variiert. Die niedrigste mit einem Backpropagation-Netz erreichte Fehlerrate von 9.1% wurde mit zwei verborgenen Schichten mit 8 Neuronen in der ersten und 13 Neuronen in der zweiten Schicht erzielt, die geringste Fehlerrate mit einem Nächster-Nachbar-Klassifikator lag bei 4.5%, wobei Lern- und Teststichproben in derselben Weise wie bei den Neuronalen Netzen gewählt wurden.

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Roß, T., Handels, H., Busche, H., Kreusch, J., Wolff, H.H., Pöppl, S.J. (1995). Automatische Klassifikation hochaufgelöster Oberflächenprofile von Hauttumoren mit neuronalen Netzen. In: Sagerer, G., Posch, S., Kummert, F. (eds) Mustererkennung 1995. Informatik aktuell. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-79980-8_45

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